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ES622系列TLP脈沖IV曲線系統是一種IV曲線表征系統，TLP符合ANSI/ESD STM 5.5.1標準，旨在高功率時域中模擬ESD事件（TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM脈沖）及監控設備（半導體、分立器件、電路模塊等）。應用于ESD性能表征/晶圓/封裝級ESD測試系統/電路模塊ESD測試/安全操作區（SOA）測試/觸摸屏ITO微帶線熔斷和擊穿測試等。

TLP傳輸線脈沖測試系統是一款便攜式脈沖IV-曲線特性表征系統，用于模擬靜電放電脈沖事件，例如TLP，vf-TLP，HMM，HBM，EFT和低壓浪涌。系統會檢測脈沖期間皮秒或納秒級的瞬態電壓和電流波形，并測試脈沖前、后被測器件的狀態（漏電流，擊穿電壓，偏置電流，靜態IV曲線等），可測的DUT包括靜電防護器件，半導體，電路模塊，觸摸板傳感器等。

ES622 Series TLP Pulsed IV-Curve System is an advanced IV-curve characterization system designed to simulate ESD events (TLP/ VF-TLP/ HMM/ HBM/MM pulse) and monitor a device