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ES612 HBM（HMM,MM）測試儀是一款2管腳測試儀，為晶圓、封裝、PCB和系統級ESD測試而設計。該測試儀的波形可以符合HBM，HMM和MM 的相關ESD標準。測試儀上的DC特性測試端口，可搭配數字源表等DC測試設備，較為輕松的幫助確定ESD損傷閾值。ES612 ESD測試儀可搭配多管腳自動化測試儀進行應用擴展，也可用作器件質檢規范流程的一步。

TLP傳輸線脈沖測試系統是一款便攜式脈沖IV-曲線特性表征系統，用于模擬靜電放電脈沖事件，例如TLP，vf-TLP，HMM，HBM，EFT和低壓浪涌。系統會檢測脈沖期間皮秒或納秒級的瞬態電壓和電流波形，并測試脈沖前、后被測器件的狀態（漏電流，擊穿電壓，偏置電流，靜態IV曲線等），可測的DUT包括靜電防護器件，半導體，電路模塊，觸摸板傳感器等。

ES631-線纜ESD放電測試系統是一種綜合型測試系統，用于模擬帶電的以太網線向任意基于以太網的網絡系統或設備放電時的影響。

TLP-1000 系列高壓脈沖發生器是我們推出的一款傳輸線脈沖（TLP）發生器，輸出電壓可達5 kV。該發生器能夠產生一個過沖小，平整度高的傳輸線脈沖，可直接注入被測器件（DUT），也可搭配不同的場探頭產生電場或磁場進行輻射場測試。發生器通過前面板上的5英寸觸摸屏或者后面板的串口進行電壓極性、電壓幅度以及輸出脈沖頻率的控制。發生器的脈沖寬度和上升沿可根據客戶需求進行定制化設計。

ES62X-LVS Low Voltage Surge System is designed for testing the surge immunity of devices at both wafer and package levels.

ES640 Charged Device Model (CDM) Test System$nCharged Device Model (CDM) electrostatic discharge is a common cause of microelectronic circuit failure.

ES622 Series TLP Pulsed IV-Curve System is an advanced IV-curve characterization system designed to simulate ESD events (TLP/ VF-TLP/ HMM/ HBM/MM pulse) and monitor a device

ES612A ESD TESTER (HBM, HMM, MM) is a 2-Pin tester designed for the evaluation of devices at both wafer level and package level. The tester is designed to carry HBM, HMM and MM ESD standards.